STマイクロエレクトロニクス、65から32ナノメーター設計向けにEncounterサインオフ・ソリューションを採用

抽出およびタイミング解析向けに実証済みで高スループットのサインオフ・ソリューションが、予測可能でシリコン精度の高い成果を実現

電子設計のイノベーションで世界をリードするケイデンス・デザイン・システムズ社（本社：米国カリフォルニア州サンノゼ市、以下ケイデンス）は、7月27日（米国現地時間）、STMicroelectronics（以下STマイクロエレクトロニクス）が、65および45ナノメーター設計向けにCadence QRC ExtractionおよびEncounter Timing Systemから構成されるケイデンスの統合サインオフ・ソリューションを採用したと発表しました。STマイクロエレクトロニクスは、このソリューションをさらに32ナノメーター・プロセス・テクノロジ向け認定のためにも評価しています。STマイクロエレクトロニクスは、通信、コンシューマ製品、コンピュータ、車載、および産業用アプリケーション用のICのプロバイダとして世界をリードする企業です。ケイデンスのサインオフ・ソリューションは、あらゆる解析用コンポーネントをシームレスに統合し、単一のコックピットで提供しています。また、Encounterインプリメンテーション設計フローとも統合されています。この統合されたソリューションは、迅速で予測可能な設計収束とスケーラブルなマルチCPU処理を提供し、設計期間全体を短縮することができます。

65および45nmフローの認定は、様々な評価基準と設計スタイルを徹底的に評価することにより実施されました。

STマイクロエレクトロニクス・コメント：
Philippe Magarshack氏（Group Vice President and General Manager、Central CAD and Design Solutions、Technology R&D）：
「我々の製品の市場投入スケジュールを達成するために、65から45ナノメーター・プロセス・ノードにおいてサインオフ・ソリューションは、高い精度のシリコンの予測、高い性能、そしてデジタル・インプリメンテーション・フローとの統合が必要です。Cadence QRC ExtractionとEncounter Timing Systemの組み合わせによるケイデンスのサインオフ・ソリューションは、我々の複雑な設計向けに定められた厳格な精度に関する仕様を満たし、設計を収束させてくれました。これにより、我々は、最先端の32ナノメーター・プロジェクトにもこのソリューションの認定作業を継続すべきであると確信しました。」

Thierry Bauchon氏（R&D Director、Home Entertainment and Displays Group）：
「我々の設計チームとお客様向けにCadence QRC Extractionと Encounter Timing Systemを採用したことは、先端ノードにおける成果から見ても、我々にとって自然な選択でした。ケイデンスの統合されたサインオフ・ソリューションは、実行時間と精度において我々に大きな利点を与え、Encounter Digital Implementation Systemとの統合によりシームレスな設計フローを実現します。」

ケイデンス・コメント：
Chi-Ping Hsu（米国ケイデンス、Senior Vice President of Research and Development for the Implementation Group）：
「STマイクロエレクトロニクスとケイデンスは、業界の最も複雑な課題を解決するために何年にもわたって成功裡に協業を行ってきました。製造上で実証済みのサインオフ・テクノロジを設計インプリメンテーション・ソリューションと直接統合するという我々のビジョンは、 先端プロセスノードにおける設計収束の課題に対応するための業界初の優れた技術の向上です。我々は、ケイデンスの統合されたサインオフ・テクノロジが、STマイクロエレクトロニクスの最先端テクノロジと設計向けに優れた成果を提供したことを喜んでおり、両社のためにさらに画期的な新しいテクノロジを実現するためにこの緊密なパートナーシップを継続していくつもりです。」

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