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急激に複雑化する設計により、先進の電力マネージメント技術や、その他の最新技術が組み合わされ、ナノスケールのシリコンに対し適切なテストベクタの生成が困難になってきています。ケイデンスのDFTとATPGテクノロジは、タイミングと電力を考慮しながらDFTの挿入と自動テストパターン生成を可能にし、スケジュールを短縮すると同時に、テストカバレッジの向上と製品の高品質化を実現します。
消費電力を考慮したテストパターン生成、およびフルチップ・テストの仕様作成、入力、そして検証のための統一されたメソドロジを使い、デザインチームがテストのコストを最小化する手助けを行います。
特許を取得したパターン・フォルト・テクノロジによる欠陥ベースのモデリング機能を提供します。縮退や遷移フォルト・モデルのサポート、またタイミングや電力を意識したATPGエンジンを提供し、微小遅延の欠陥を検出します。
ICの故障解析において最も優れた診断技術および手法により、きわめて正確な診断結果をいち早く導き出すことができます。それにより、出荷可能な歩留りに至るまでの立ち上げを加速し、最先端のICにおける利益率を向上させます。
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