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ENCOUNTER DIAGNOSTICS

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Encounter Diagnosticsは、ICの故障解析において最も優れた診断技術および手法により、きわめて正確な診断結果をいち早く導き出すことができます。それにより、出荷可能な歩留りに至るまでの立ち上げを加速し、最先端のICにおける利益率を向上させます。

Encounter Diagnosticsは、ボリューム・モードおよびプリシジョン・モードをサポートしており、いずれのモードでも標準的な故障解析機能に加え、特許を取得したパタンフォルト・モデリングによるフレキシブルな故障診断や、論理回路図と物理レイアウトのクロス･プローブなどビューワを用いたインタラクティブな解析が行なえます。また、入力として業界標準のテストベクタ・フォーマット(STIL)をサポートします。

ボリューム・モードは、標準規格SQLのデータベースを用いて、先進の統計的な解析を行い、主要な歩留り低下の要因を発見するために診断結果とフェイル・データを分析します。ボリューム解析は、論理と物理の両方の情報を用いて分析します。

プリシジョン・モードは、スキャンチェーン診断や、SLAT解析をはじめとしたアドバンスな診断機能、診断用テストパタン作成、先進的かつ統合されたGUI解析環境などを用いて、ブリッジなどの複雑な欠陥をもピンポイントで発見します。

SLAT解析採用に関する資料はこちらよりご覧いただけます。

図1：　Encounter Diagnosticsによる包括的な故障診断のサポート


利点

・ ボリューム・モードおよびプリシジョン・モードにおける共通の診断エンジン
・ 一番クリティカルな歩留り低下要因（問題、原因）を発見
・ 8割以上の精度で物理解析の結果と一致
・ 論理回路図と物理レイアウトのクロス･プローブにより問題箇所を効果的に分離
・ 物理属性の抽出と更なる歩留り低下箇所の絞込みのためのフィジカルデザインブラウザ
・ 疑わしい欠陥箇所を座標情報としてレポートすることで物理解析の効率を向上
・ 数千もの不良チップを高速に分析
・ STILに準拠した他社のATPGパタンもサポート可能で、どのフローにも容易にプラグイン
・ パテント取得したパタンフォルト・モデリングにより、65nm以降の微細化プロセスにおける故障箇所を効率良く発見
・ ユーザの既存の歩留り管理システムの価値向上
・ 不良の数やデザインの規模に応じて複数のCPUもしくはネットワーク上のマシンを用いることでスケーラブルなソリューションの提供
・ スキャンチェーン上の欠陥の発見
 

図2：　Encounter Testファミリによる完全なRTL-to-Siliconのテスト環境

お問い合わせ先

上記内容に関するお問い合わせはこちらよりお願いいたします。